Устройство позволяет тестировать плоские кабели с разъёмами типа IDC 64, 60, 50,40,34, 26,20, 16 и 10 пин  и DSUB типа 37,25,15, 9 пин а также маркировать до 32 жил в кабельных муфтах.Схема приведена ниже.

Устройство выполнено на Ардуино Нано. Для тестирования до 64 жил на входе и на выходе применяются микросхемы расширения входов - выходов МСР23017. Дисплей от NOKIA5110. Питание от 2-х последовательно включенных литиевых аккумуляторов общим напряжением 7,4В. При правом по схеме положении переключателя SW7 тестируются плоские кабели IDC типа. После включения питания нажать кнопку TEST. При обнаружении обрыва, замыкания или перекрещивания жил тест останавливается и на дисплее высвечиваются номера дефектных жил. 

Для маркировки жил в муфте к зажимному разъёму Х1 типа WAGO-234 подключить провода кабеля соответственно номерам и к   разъёму Х2 подключить провод. Далее включить питание и и этот провод подключать к каждой жиле кабеля. При этом на дисплее высвечивается номер жилы.

Для тестирования плоского кабеля DSUB выключить питание и к разъёму J9 подключить специальный адаптер.Схема представлена ниже.

Адаптер содержит 6 микросхем расширения входов - выходов, подключенных к тестеру через разъём J9 c помощью I2C интерфейса как показано на рис. ниже

Подключать адаптер под напряжение не рекомендуется, т.к.  это приведет к сбою I2C. Подробнее на видео

 

 

Перечни элементов, проект в FLPROG со скетчем для Ардуино, чертежи печатных плат в EagleCAD с герберфайлами для заказа, проект в Протеус с симуляцией в архиве